An der Ostbayerischen Technischen Hochschule Regensburg (OTH Regensburg) hören die Studierenden im Rahmen des Bachelorstudiums der Elektro- und Informationstechnik - Studienschwerpunkt Elektronik - im 6. Semester eine Vorlesung über die Halbleiter-Test- und Prüftechnik, die durch ein zugehöriges Praktikum in den Laboren der OTH Regensburg ergänzt wird. Ebenso ist Halbleiter-Test ein Thema im Rahmen der Vorlesung „Electronic Product Engineering“ im Rahmen des Master Electrical and Microsystems Engineering.
Auf Basis einer langjährigen Zusammenarbeit in der VDI/VDE-GMM-Fachgruppe „Test-Equipment und -Verfahren“, deren Sprecher Prof. Dr. Rainer Holmer ist, wurde am 5. Juli 2017 eine Exkursion zu Texas Instruments in Freising durchgeführt, um sich den Halbleitertest vor Ort in der Praxis anzusehen.
Das Besuchsprogramm startete mit einer Begrüßung durch den Test Operation Manager, Werner Huber, und seinem Team inklusive einer Vorstellung der Firma Texas Instruments und des Standortes Freising. Im Anschluss daran wurden speziell die Testbereiche in Freising vorgestellt, die einen Produktionstestbereich und einen Testentwicklungsbereich – das CLAB – umfassen. In beiden Bereichen bieten sich interessante Tätigkeitsfelder für Elektroingenieurinnen und Elektroingenieure und Mikrosystemtechnikerinnen und Mikrosystemtechnikern. Abgerundet wurde die Einführung durch eine Präsentation der Personalabteilung zu den verschiedenen Angeboten für Studierende und den Job-Möglichkeiten für Absolventinnen und Absolventen.
Neben viel Information darf auch die Praxis nicht zu kurz kommen und so ging es in zwei Gruppen aufgeteilt auf Besichtigungstour durch den Produktionstest und das CLAB, wo man den verschiedenen Typen von automatisierten Halbleiter-Testern, sowie diversen Handling- und Kontaktierungs-Equipments (Wafer-Prober, Baustein-Handler, Nadelkarten) ganz nahe kam. Die Testexperten, die die Führungen begleiteten gaben viele zusätzliche Informationen und beantworteten gerne die Fragen der Studierenden.
Zum Abschluss stellten Testexperten von Texas Instruments konkrete Themen für Projekt- und Abschlussarbeiten in ihren jeweiligen Bereich vor, so dass sich den Studierenden aus dem Besuch heraus viele Optionen bieten, im Umfeld des Halbleitertests weiter zu arbeiten. Prof. Dr. Holmer bedankt sich beim Team von Texas Instruments, das diesen Besuch ermöglicht hat.
